Kostenloses Seminar

Seminar zum Thema Leiterplattentest

Seminar Leiterplattentest

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Kostenloses Leiterplattentest-Seminar auf der SMT

Von der Konzeption über Softwarelösungen bis hin zu Boundary Scan

Wir laden herzlich zu einem kostenlosen Seminar rund um das Thema Leiterplattentests am 27. April 2016 in Nürnberg ein.
 
Die praxisorientierte Veranstaltung bieten wir parallel zur SMT gemeinsam mit den Firmen Digitaltest und JTAG 
dieses Jahr zum ersten Mal an.

Das Seminar ist für Sie kostenfrei und findet am Vormittag um 10.00 Uhr im Convention Center NCC Ost statt. 
Wir freuen uns auf Ihre Anmeldung!

THEMEN

Was ist bei der Konzeption von Automatisierungskonzepten zu beachten?
Wer Automatisierungskonzepte für die Prüfung von Leiterplatten entwirft, muss verschiedene Parameter einbeziehen, um die optimale Lösung zu finden. Es geht um Stückzahlen, Varianten, Testzeiten und Standorte. Engmatec zeigt Ihnen, wie sich Standard-Testlinien im Vergleich zu modularen Wechselsatzkonzepten verhalten und informiert über den sinnvollen Einsatz von flexiblen Testlinien.
(Michael Kaltenbach, Vertriebsleiter, Engmatec GmbH)

Wie kann eine ganzheitliche Softwarelösung das Testergebnis verbessern?
Wir zeigen, wie Sie mit der richtigen Software per Schnittstelle zu CAD, Test und Adapterbau zum bestmöglichen Prüfmittel kommen und Testprogramme automatisch verifizieren können. Zudem stellen wir vor, wie Sie mittels einer Paperless-Repair Software den Produktionskreislauf abrunden, da diese den Fertigungsprozess überwacht und die Auswertungen auch bei Änderungen im PCB-Design berücksichtigt werden können.
(Olaf Rohrbacher, Software Produktmanager, Digitaltest GmbH)

Wie können Boundary Scan Erweiterungen die Fehlerabdeckung erhöhen?
Der Zugriff auf die komplexer werdenden Baugruppen von heute wird immer schwieriger und hat eine sinkende Fehlerabdeckung zur Folge. Dies sorgt für viele Sorgenfalten im Prüffeld. Werfen Sie einen Blick auf die Möglichkeiten welche sich durch “JTAG TECHNOLOGIES INSIDE” ergeben und sehen Sie Ihre bestehenden Testverfahren (ICT, Flying Probe oder Funktionstest) durch verschiedene Boundary Scan Erweiterung, mit anderen Augen.
(Marco Sliwa, Vertriebsingenieur, JTAG Technologies)

ORT UND ZEIT
Wann: 27. April 2016, 10-12 Uhr
Wo: Nürnberg Messezentrum, Messeplatz 1, 90471 Nürnberg; Convention Center NCC Ost, Ebene 3, Raum Neu-Dehli

ANMELDUNG
Bitte melden Sie sich zeitnah an, da die Teilnehmerzahl begrenzt ist.
Verbindliche Anmeldungen bitte an marketing@digitaltest.de