Multi Testing Cell

Taktzeitoptimierte Testlösungen

Taktzeitoptimierte Testlösungen

Stufenweise ausbaubare Multi-Testing Cell

Sie kennen das sicher auch – z.B. das Flashen von Leiterplatten dauert erheblich länger als der elektrische Leiterplattentest. Es werden mehrere parallele Flash-Stationen benötigt, um diesen Engpass zu kompensieren. Dies ist nur eins der vielen Szenarien, die im Alltag auftauchen und für die es flexible Lösungen braucht.

Mit der ENGMATEC Multi-Testing Cell sind flexible Lösungen für parallele und skalierbare Testprozesse möglich. Das Testsystem kann für Leiterplatten und elektronische Baugruppen eingesetzt werden.

Sie können unsere Standard-Kontaktierzellen von einem bis auf 8 Nadelbetten erweitern.
Das Standard Wechselsatzkonzept von ENGMATEC setzen Sie je nach Anforderung für den Incircuit Test (ICT), Funktionstest, EOL Test, HF-Test, Programming, Flashen und Boundaryscan ein.

Das Besondere an unseren Testzellen:

  • Direkte Anbindung an Montagezellen
  • 1-8 Kontaktier-Stationen, stufenweise ausbaubar
  • Kompakte Integration von Testsystemen
  • Parallele Testprozesse
  • Debugging-Adapter verfügbar
  • Flexible Beladesysteme
  • Schlechtteilehandling
  • Anbindung an MES Systeme

Wenn Sie mehr über unsere Testlösungen erfahren wollen, kontaktieren Sie unsere Experten!

Michael.Kaltenbach@engmatec.de
Tel. +49 7732 999829
Sales Director Testing Automation