Temperaturprüfschrank

Run in und Stress-Screening
von elektronischen Baugruppen

Bestückung mit anschließender Prüfung:
Elektronische Baugruppen sollen bei einer Temperatur von -40 °C bis +85 °C mehrfach geprüft werden.

Aufbau der Anlage

• Der Prüfschrank (Grundgerät) ist für Temperaturbereich von -70 °C / +180 °C wieder verwendungsfähig ausgelegt.
• Im Prüfschrank ist ein Einbaurahmen mit Schnittstellen für vier Einschübe montiert.
• Die vier Einschübe zur Aufnahme und Kontaktierung der elektronischen Baugruppen werden manuell in den Einbaurahmen eingeschoben und verriegelt.

• Die elektronischen Baugruppen können außerhalb des Temperaturprüfschrankes auf den Einschüben bestückt werden. Die Kontaktierung der Baugruppenstecker erfolgt über ein mechanisches Niederhaltesystem.
• Die Kontaktstifte sind auf die Steckerverbindungen des Einschubs verdrahtet.
• Ca. 500 Kontaktstifte aller Einschübe sind über Steckerverbindungen der Prüfschrankschnittstelle mit dem Prüfrechner verbunden.
• Alle Baugruppen auf den Einschüben können gleichzeitig geprüft werden.
• Die Baugruppen durchlaufen einen mehrstündigen Erwärm- und Abkühlzyklus.
• In diesem Ablauf werden die Baugruppen mehrfach auf ihre Funktion bei der jeweilig vorgegebenen Temperatur geprüft.
• Am Ende der Prüfung werden die Einschübe dem Prüfschrank entnommen, die Baugruppenfixierungen gelöst und die Baugruppen nach Prüfergebnis sortiert abgelegt.